在這一診斷過(guò)程中，主要測(cè)試硬盤(pán)及內(nèi)存的問(wèn)題，其中硬盤(pán)測(cè)試主要依賴(lài)于硬盤(pán)的自監(jiān)控、分析與報(bào)告技術(shù) (SMART) 功能(SMART 是某些磁盤(pán)驅(qū)動(dòng)器制造商提供的一種功能，可以預(yù)先通知用戶(hù)硬盤(pán)存在潛在故障)。而內(nèi)存診斷主要驗(yàn)證計(jì)算機(jī)的隨機(jī)存取內(nèi)存 (RAM) 的完整性(圖3)。
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